原生 TLC 实现 11000 P/E，ATP 更新 N651Si / N651Sc 工业级 SSD 耐用性数据

IT之家 6 月 25 日消息，专业存储厂商 ATP 华腾国际昨日宣布，其两系列工业级 PCIe 4.0×4 NVMe 固态硬盘 N651Si / N651Sc 的耐用性从此前的 5000 P/E（IT之家注：编程-擦除循环）提升至 11000 P/E，达到典型水平 3000 P/E 的三倍以上。

ATP 表示，这意味着上述解决方案成为基于 512Gb NAND 封装构建的最高耐用性工业级原生 TLC SSD，是承受写入密集型工作负载的良好选择。

达成 11000 P/E 的背后是优质 NAND 封装、严格的 NAND IC 特性分析、NAND 筛选和验证能力和 ATP 的专有固件、专门硬件配置和自研技术的共同作用。

ATP 表示其多样的测试方法对 NAND 闪存的整体耐用性指标 —— 初始读 / 写操作、耐用性、数据保持力、交叉温度行为、读取干扰特性等 —— 进行了全面评估。

ATP 的 N651Si 固态硬盘提供 M.2 2280、U.2、EDSFF E1.S 外形规格，支持 -40°C ~ 85°C 工作温度范围；而 N651Sc 则是仅有 M.2 版本，工作温度范围 0℃ ~ 70℃。

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